偏振相關損耗測試儀

簡要描述·╃◕：PDL測試儀能在30 ms內◕↟▩◕，同時測量待測器件的偏振相關損耗（PDL）◕↟▩◕，插入損耗（IL）和光功率╃╃╃☁◕。使用擾偏法測量的PDL具有很高的不確定性╃╃╃☁◕。與這種方法不同◕↟▩◕，PolaCHEXTM有條理地搜尋最大和最小透過率◕↟▩◕，確保了具有較高和較低PDL值的器件在任何時刻的測量精度◕↟▩◕，可獲得精確的PDL值╃╃╃☁◕。

產品型號·╃◕：

所屬分類·╃◕：偏振分析儀

更新時間·╃◕：2021-08-18

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PDL測試儀能在30 ms內◕↟▩◕，同時測量待測器件的偏振相關損耗（PDL）◕↟▩◕，插入損耗（IL）和光功率╃╃╃☁◕。使用擾偏法測量的PDL具有很高的不確定性╃╃╃☁◕。與這種方法不同◕↟▩◕，PolaCHEXTM有條理地搜尋透過率◕↟▩◕，確保了具有較高和較低PDL值的器件在任何時刻的測量精度◕↟▩◕，可獲得精確的PDL值╃╃╃☁◕。PolaCHEX覆蓋了較寬的波長範圍·╃◕：1260~1650 nm◕↟▩◕，無需波長校準◕↟▩◕，比基於Mueller矩陣方法測得的PDL值更準確╃╃╃☁◕。它帶有USB₪↟·╃、乙太網₪↟·╃、GPIB和RS-232介面◕↟▩◕，用於電腦控制╃╃╃☁◕。能快速₪↟·╃、精確測量與波長相關的無源器件的特性◕↟▩◕，尤其適用於製造或實驗室中DWDM₪↟·╃、光纖感測元件╃╃╃☁◕。與PDL-101相比◕↟▩◕，PDL-201具有較快的測量速度◕↟▩◕，較大的測量動態範圍◕↟▩◕，更明亮的顯示屏◕↟▩◕，以及用於整合的附加模擬輸出埠╃╃╃☁◕。

主要技術引數·╃◕：

備註:資料在23±5°C溫度下◕↟▩◕，10組平均值所得╃╃╃☁◕。精確的偏振相關損耗測試還取決於測試設定╃╃╃☁◕。輸入功率 ≥0 dBm◕↟▩◕，使用者自定義功率計測量模式╃╃╃☁◕。